低温测试

检测目的： 检验试件能否在长期的低温环境中储藏、操纵控制

检测范围： 电子、元器件、电路板、通讯、LED、液晶屏、仪器仪表、电容、车辆、医药、塑胶、金属、化学、建材等行业产品

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项目介绍低温试验条件低温试验标准低温试验的影响

低温测试介绍

低温测试是用带制冷功能的温度箱，测试前检查产品的相关功能、性能等是否正常并拍照，然后将产品放置于温度箱中，设置温度箱的温度及测试时长，比如-30°C，168小时，让温度箱工作，这样，就模拟出产品所处于的环境温度及时长。测试完成后，将产品取出，再次检查产品的相关功能、性能等跟测试前是否有什么变化。对比之后，如发现未受到影响，或者受到的影响在可接受的范围之类，则说明该产品抗低温方面的性能合格，否则为不合格。

低温试验条件

不带电贮存：-40℃，保持24h，恢复2h。

测试设备是否工作正常;带电工作：-20℃，保持工作状态，观察设备是否正常工作；

参考标准：GJB 、GBT2423.1等。

低温试验标准

检测项目

测试标准

测试周期

样品要求

低温试验

GB/T 2423.1-2008

实际+2

只测：温度范围：-40℃～＋5℃

尺寸：1×1×1m

IEC 60068-2-1-2007

低温试验的影响

低温对机械、电工、电子产品影响是多方面的，并因产品拄能、程度辅结构的特点而异，如：

1、使电解液冻结t导致电解电容器、电池不能正常使用；

2、润滑油粘度增加,甚至冷凝冻结,影响产品起动性能；

3、影响电子产品正常启动,增大仪表误差；

4、使材料变脆,如塑料、钢铁在低温下容生脆裂损坏，橡胶材料硬度增大，弹性下降。

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