1、范围

本标准规定了铜及铜合金平均晶粒度的表示及测定方法，包含有比较法、面积法和截距法。

本标准适用于测定单相或以单相为主的铜及铜合金的晶粒度。

2、试样

2.1 试样应直接从产品 上截取。取样部位和取样数量应按相应产品标准的有关规定进行。

2.2 试样取样尺寸推荐如下：

a) 板带材取15 mmX15 mm正方形样；

b) 管棒材沿轴向取10 mm~15 mm长圆环样或圆片样。

2.3 试样制备方法按照YS/T 449规定进行。

3、晶粒度测定方法

3.1比较法

3.1.1比较法是通过被测试样的图像与标准图对比来测定试样晶粒度。

3.1.2试样制好后 ,在放大100倍的倍率下，通过金相显微镜拍出有代表性视场的显微照片或直接通过目镜观察，与相应的标准评级图片附录A直接比较，选出与试样图像最接近的标准图片，作为试样的晶粒度，报出晶粒度值。每个试样截面上应选择三个或三个以上有代表性视场进行比较。

3.1.3 当试样晶粒度超过标准评级图片所包括的范围时，可采用合适的放大倍率M。在此放大倍率下的晶粒图像与标准放大倍率(100X )的标准评级图片进行比较，找出最接近的图片后,按表2查对，报出实际晶粒度。

3.2 面积法

3.2.1面积法是通过统计给定面积内的晶粒数来测定试样晶粒度。

3.2.2在晶粒图像上划一个直径79.8mm的测量圆，面积近似为5000mm²，选择适当放大倍率M，使该圆内至少包含有50个晶粒。计算测量圆覆盖的晶粒数ng；

3.3 截距法

3.3.1 截距法是通过统计一 -定长度的一.条或几条线段上所截的晶粒个数，计算出晶粒平均截距来测定晶粒度的大小。

3.3.2 在晶粒图像上，任画出一条或几条一定长度的线段作为测量线段，选择适当的放大倍率，以保证至少有50个晶粒被线段截过，李晶界不计算在内。为了获得准确的平均值，应选择3~5个视场进行测量，以最能代表试样晶粒大小视场分布报出。

4、测定方法的应用

4.1使用任何一种测定方法。最终应以晶粒平均直径来表述晶粒度。需要时可根据公式计算或表3查出相应的其他数值。

4.2 使用比较法可直接得出晶粒平均直径；面积法、截距法可根据公式计算或查表报出出晶粒平均直径。

4.3 比较法适用于具有等轴晶粒(或近似等轴晶粒)的再结晶品粒。面积法、截距法均适用于等轴晶粒的测量，同时也适用非等轴晶粒的测量。

4.4 非等轴晶粒的试样检验应平行于加工方向的纵截面，必要时还应检验其他方向截面。等轴晶粒的试样检验平行于加工方向的纵截面即可。

4.5 比较法 方便实用，主要用于生产检验。对于要求较高精度的平均晶粒度的测定，推荐采用面积法和截距法。截距法相对于面积法更为快捷准确。如有争议时，以截距法为仲裁方法。

4.6 显微组织中晶粒尺寸和位置都是随机分布，视场选择应为随机的，不应刻意去选取典型视场。

4.7 当试样存在着晶粒不均现象，且优势晶粒所占面积比例不大于视场面积的90%时，则应筛选出两种优势晶粒，按6.1.6. 2、6.3规定测量出两种晶粒的平均直径及所占百分比，报出两种晶粒的平均直径及所占比例作为最终晶粒度结果。如0.025 mm 40%和0. 045 mm 60%。否则，只报出优势晶粒的晶粒度。

以上就是“ YS∕T 347-2020 铜及铜合金平均晶粒度测定方法”的相关解答，无锡力博实验室是一家专注于可靠性试验与项目研发的第三方检测机构，公司拥有大型实验室，可以承接平均晶粒度检测、及CNAS/CMA报告试验，如果您有产品需要做相关测试的，欢迎电话咨询!