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碳素钢和低合金钢火花源原子发射光谱分析标准试验方法 ASTM E415-2021发布时间:2024-05-13   浏览量:580次

1.范围

1.1本试验方法包括了通过火花源原子发射光谱法来同时测定碳素钢和低合金中的20种合金和残余元素,各元素质量分数范围如下所示(注1)。

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1.2 本试验方法包括了直径大小足够盖住和密封火化架开口的镗孔的试样分析方法。 根据光度计试样架的设计情况,试样的厚度可有很大不同,但已发现介于10mm和38mm之间的某一厚度是最适合的。

1.3 本方法包括了钢铁冶炼过程中的常规控制分析以及已加工材料的分析。适用于铸态和锻轧样品的分析。当标准样 品与试样具有相同的冶金条件和成分时,可获得较好的测试效果。然而,对于本标准的所有应用,这是不需要的。

1.4 本标准并没有完全列举所有的安全声明,如果有必要,根据实际使用情况进行期酌。使用本规范前,使用者有责任制定符合安全、健康和环保要求的条例和规范,并明确该规范的使用范围。

1.5 本国际标准是根据国际公认的标准化原则制定的。该标准化原则在世界贸易组织技术性贸易壁垒(TBT) 委员会发布的《国际标准,指南及建议制定原则》中的决议予以确立。

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2、方法概述
2.1 在圆盘试样的平坦、磨光的表面与圆锥形的电极之间产生电容放电。放电会在选定的铁谱线强度预定的积分时间或在预定时间停止,记录分析线的相对辐射能。砷、硼、碳、氮、磷、硫和锡的最敏感线位于真空紫外线区域。该区 域内空气对辐射的吸收通过分光计排气或使用一种真空紫外线(VUV) 透明气体和使用氢气冲洗火花箱来克服。

3、重要性和使用意义

3.1 该金属和合金光谱分析方法主要用于测试符合成分规范的材料。人们认为本分析方法的使用者应为能熟练而安全地进行实验室常规试验的分析师。分析将会有适当仪器装备的实验室内进行。

4、试剂和材料

4.1 对电极——对电极可为银棒或钨棒或其他材料,前提条件是这些材料能试验证明可获得等效的精密度和偏差。棒的直 径为1.5mm- 6.5mm (取决于仪器的设计)并且一般顶角加工成90°或120°。

4.1.1 黑色沉积物会在电极的顶端堆积,位于试样间的黑色沉积物应给予清除( 一般用钢丝刷)。如果没有清除,沉积物可降低光谱辐射的总体强度或在试样间传递微量的污染物。仪器间电极上可接受的激发次数有所不同并且应在每个实验室内确定。

4.2 惰性气体,氩气,依照规程E406。

5、校准、标定和检验

12.1 校准——使用给出的条件,以随机时序测量校准样品和潜在的漂移校正样本,将用作控制样品的激发材料放在支架上。(校准样品可随后用作为一种控制样品) 。每种元素应至少有3个校准样品,包括要求的质量分数范围。分别测量每一种校准样品、漂移校正样品和控制样品2~4次,并使用平均值。如果分光计系统和软件允许,使用不同的随机时序至少重复两次。采用每 点数据的平均值,按照规程E305指导在分光计制造商软件中确定分析曲线。

5.2 校准一 依照制造厂的建议,对初始设置进行校准或在已知或怀疑读数出现漂移时进行校准。通过调整读出数的控制或采用算术校正来进行必要的校正。校准将在检验显示读数已经偏离统计控制时进行。在由分光计软件执行自动校正的场合,观察校准因乎或偏移或两者。在校准或在记录文件内储存之后,该校准因子或偏移或两者通常在分光计软件内显示。该信息的访问参考您的仪器手册或咨询仪器制造商。

5.3 校准——每次校准后以及依照5.3.2要求即刻检验校准是否有效。

5.3.1 依照第13节分析控制样品。如果结果超出12.4中确定的控制限值,则重新校准一次或调查仪器故障原因。

5.3.2 每个实验室应根据统计分析确定必要的检验频次。一般每4h- 8h一次是实用而充足的。如果结果不在12.4中确定的控制限值范围内,则重新校准并重新检验一次。 如有必要,重复校准以便检验结果在控限极限值内或进一步调查仪器的问题。

5.4 质量控制——依照ASTM MNL 7A,规程E1329和其他等效的控制程序来确定控制限值。

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